- 脈沖發(fā)生器
-
功能材料系列
-
高溫介電溫譜測(cè)試儀
-
儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系...
-
熱釋電系數(shù)測(cè)試儀
-
高低溫冷熱臺(tái)
-
50點(diǎn)耐壓測(cè)試系統(tǒng)
-
閉孔溫度破膜溫度測(cè)試儀
-
鋰離子電池隔膜電弱點(diǎn)測(cè)試...
-
多通道介電/電阻測(cè)試模塊
-
壓電系數(shù)測(cè)試儀
-
探針臺(tái)
-
高壓薄膜極化裝置
-
功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
阻抗分析儀
-
電介質(zhì)充放電系統(tǒng)
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)...
-
高溫絕緣電阻測(cè)試儀
-
鐵電測(cè)試系統(tǒng)
-
鐵電分析儀
-
高溫介電溫譜測(cè)試儀
-
工程塑料絕緣材料系列
-
高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)...
-
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀
-
介質(zhì)損耗分析系統(tǒng)
-
傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
絕緣電阻劣化（離子遷移）...
-
變溫極化耐擊穿測(cè)試儀(高...
-
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)
-
耐壓絕緣測(cè)試儀
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
-
表面、體積電阻率測(cè)試儀(...
-
耐電弧試驗(yàn)儀
-
電壓擊穿試驗(yàn)儀
-
工頻介電常數(shù)測(cè)試儀
-
低壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)...
-
絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)
-
長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)
-
絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)
-
導(dǎo)電與防靜電體積電阻率測(cè)...
-
高壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)...
- 靜電系列
- 功率放大器系列
- 新品推薦
- 工程塑料絕緣測(cè)試設(shè)備
- 功能材料試驗(yàn)設(shè)備
- 附件及配件
- 儲(chǔ)能科學(xué)與工程試驗(yàn)設(shè)備
- 改性塑料試驗(yàn)設(shè)備
- 絕緣材料測(cè)試儀器
- 高壓電源與高壓驅(qū)動(dòng)設(shè)備
- 高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
- 靜電試驗(yàn)設(shè)備
- 國(guó)標(biāo)設(shè)備
- 半導(dǎo)體封裝材料測(cè)試系統(tǒng)
-
功率放大器
絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)
HC9023
一、產(chǎn)品概括
絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《GB/T 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā)，并參考美國(guó) ASTM 標(biāo)準(zhǔn)。利用電阻測(cè)試系統(tǒng)，重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，提升了夾具的抗干擾能力，可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
針對(duì)絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)做了多項(xiàng)an全設(shè)計(jì)，測(cè)試過程中在過電壓、過電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過程的an全；資料保存機(jī)制，當(dāng)遇到電腦異?；蛩矔r(shí)斷電時(shí)，可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù)，設(shè)備重新開啟后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)中的恒溫箱給每個(gè)腔室都配備了一個(gè)型號(hào)控制器，該控制器允許程序重復(fù)多達(dá)9999次。每個(gè)程序步驟包括溫度、時(shí)間和變化率參數(shù)。浸泡時(shí)間zui長(zhǎng)可達(dá)100小時(shí)。提供的內(nèi)置控制器外部接口是RS232?？刂破骶哂邪粹o方便性、背光LCD、電池支持的存儲(chǔ)器和可設(shè)置的總線地址和波特率。
