TSC （TSDC）熱刺激電流測試儀（熱激發(fā)電流分析儀）

熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡單實用而且又能較準確地測量出某些物質(zhì)（如電介質(zhì)、絕緣材料、半導體、駐體等）的微觀參數(shù)，熱刺激法是一面對材料升溫一面進行測量，即非等溫測量。由于材料（例如介電材料）中的荷電粒子的微觀參數(shù)（如活化能h、松弛時間τ等）不同，用熱刺激法就很容易將材料中的各種不同h或τ的荷電粒子分離開來，從而求出各自的參數(shù)。因為熱刺激電流與材料的這些參數(shù)（如h與τ）密切相關(guān)，故它是一種研究介電材料、絕緣材料、半導體材料等的有效手段。tsc是指當樣品受到電場化后，去掉電場，熱激時，樣品從化態(tài)轉(zhuǎn)變到平衡態(tài)的過程中，在外電路中得到的電流，稱為熱激退化電流。

  SDC/TSC-3000型熱激勵去化電流測量系統(tǒng)原理：

     介質(zhì)材料在受熱過程中建立化態(tài)或解除化態(tài)時所產(chǎn)生的短路電流?；痉椒ㄊ菍⒃嚇訆A在兩電之間，加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā)，然后施加一個直流的化電壓，經(jīng)過一段時間使樣品充分化，以便載流子向電漂移或偶子充分取向，隨后立即降溫到低溫，使各類化“凍結(jié)”，然后以等速率升溫，同時記錄試樣經(jīng)檢流計短路的去化電流隨溫度的變化關(guān)系，即得到TSDC譜“凍結(jié)”，然后以等速率升溫，同時記錄試樣經(jīng)檢流計短路的去化電流隨溫度的變化關(guān)系，即得到TSDC譜。

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