產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
01. 采用進(jìn)口B&K進(jìn)口激振器，更準(zhǔn)確的振動(dòng)頻率；
02. 采用ADA4870 驅(qū)動(dòng)技術(shù)與B&K激振器匹配，閉環(huán)實(shí)現(xiàn)更穩(wěn)定的加載力；
03. 采用主流FPGA設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)30Hz-140Hz寬范圍測(cè)量；
04. 采用高阻放電荷放大器，減小測(cè)量過(guò)程中的損耗，準(zhǔn)確測(cè)量；
05. 采用直流線(xiàn)性加熱，減少渦流加熱噪聲；
06. 采用真空電極避免絕緣支架帶來(lái)的熱釋電電荷，引入測(cè)量系統(tǒng)。
產(chǎn)品參數(shù)
電性能參數(shù)
01. 范圍：100到10,000 pC/N,
精度Accuracy±2%±1 pC/N；負(fù)載：1.0uF
02. 高范圍：10到1000 pC/N，
精度：±2%±1 pC/N，負(fù)載：1.0uF；
03. 低范圍：1到100 pC/N,
精度：±2%±0.1 pC/N，負(fù)載: 1.0uF；
04. 范圍：d33 0到10 pC/N，
精度:±2%±0.01 pC/N，負(fù)載: 0.1uF；
儀器參數(shù)
01. 測(cè)試頻率：調(diào)節(jié)范圍30Hz到140Hz，精度：±0.1Hz
02. 測(cè)試載荷：靜態(tài)力10N，振蕩測(cè)試載荷：0.05N到0.5N可調(diào)
03. 電容測(cè)量范圍：10 pF到0.1 μF，精度：±2%±1 pF
04. 溫度范圍：RT-650℃
05. 加熱方式：PID控制（含LVDC降噪電源）
06. 溫度穩(wěn)定度：±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）
07. 軟件功能：可設(shè)溫控速率，可設(shè)溫控程序，可記錄溫控曲線(xiàn)
08. 試驗(yàn)電壓：DC 50V- 6K9. 試驗(yàn)電壓精度：≤2%
10. 快速放電功能：測(cè)試結(jié)束后自動(dòng)放電（DCW）
11. 電壓上升時(shí)間：0.1s — 999.9s
12. 測(cè)試時(shí)間設(shè)定(DC) ：0.2s — 999.9s
13. 測(cè)試電流：DC 0-5mA
14. 電流精度：≤2%
15. 保護(hù)：過(guò)流保護(hù)（超過(guò)設(shè)置電流值10nA設(shè)備停止輸出）、過(guò)壓保護(hù)（超過(guò)設(shè)備設(shè)置輸出電壓50V后設(shè)備停止輸出）、短路保護(hù)（未放置樣品設(shè)備發(fā)生短路設(shè)備停止輸出）
16. 電流靈敏度：10nA
17. 擊穿斷電響應(yīng)：1ms
18. 電壓顯示精度：0.05KV
19. 電流顯示精度：10nA
20. 50點(diǎn)電極法測(cè)試工裝：上電極直徑25mm，倒角2.5mm，高度120mm，黃銅材料。下電極退火鋁箔下平鋪3mm厚度，邵氏硬度60-70的橡皮/硅膠。要求電極表面光滑，無(wú)劃痕。
21. 工裝尺寸：500mm*350mm*80mm
22. 設(shè)備尺寸：120 mm *280 mm *100mm
應(yīng)用領(lǐng)域
在高溫測(cè)試過(guò)程中能夠除去熱釋電的影響，廣泛用于壓電材料(壓電陶瓷、高分子)、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評(píng)價(jià)與測(cè)試。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
01. 采用進(jìn)口B&K進(jìn)口激振器，更準(zhǔn)確的振動(dòng)頻率；
02. 采用ADA4870 驅(qū)動(dòng)技術(shù)與B&K激振器匹配，閉環(huán)實(shí)現(xiàn)更穩(wěn)定的加載力；
03. 采用主流FPGA設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)30Hz-140Hz寬范圍測(cè)量；
04. 采用高阻放電荷放大器，減小測(cè)量過(guò)程中的損耗，準(zhǔn)確測(cè)量；
05. 采用直流線(xiàn)性加熱，減少渦流加熱噪聲；
06. 采用真空電極避免絕緣支架帶來(lái)的熱釋電電荷，引入測(cè)量系統(tǒng)。
產(chǎn)品參數(shù)
電性能參數(shù)
01. 范圍：100到10,000 pC/N,
精度Accuracy±2%±1 pC/N；負(fù)載：1.0uF
02. 高范圍：10到1000 pC/N，
精度：±2%±1 pC/N，負(fù)載：1.0uF；
03. 低范圍：1到100 pC/N,
精度：±2%±0.1 pC/N，負(fù)載: 1.0uF；
04. 范圍：d33 0到10 pC/N，
精度:±2%±0.01 pC/N，負(fù)載: 0.1uF；
儀器參數(shù)
01. 測(cè)試頻率：調(diào)節(jié)范圍30Hz到140Hz，精度：±0.1Hz
02. 測(cè)試載荷：靜態(tài)力10N，振蕩測(cè)試載荷：0.05N到0.5N可調(diào)
03. 電容測(cè)量范圍：10 pF到0.1 μF，精度：±2%±1 pF
04. 溫度范圍：RT-650℃
05. 加熱方式：PID控制（含LVDC降噪電源）
06. 溫度穩(wěn)定度：±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）
07. 軟件功能：可設(shè)溫控速率，可設(shè)溫控程序，可記錄溫控曲線(xiàn)
08. 試驗(yàn)電壓：DC 50V- 6K9. 試驗(yàn)電壓精度：≤2%
10. 快速放電功能：測(cè)試結(jié)束后自動(dòng)放電（DCW）
11. 電壓上升時(shí)間：0.1s — 999.9s
12. 測(cè)試時(shí)間設(shè)定(DC) ：0.2s — 999.9s
13. 測(cè)試電流：DC 0-5mA
14. 電流精度：≤2%
15. 保護(hù)：過(guò)流保護(hù)（超過(guò)設(shè)置電流值10nA設(shè)備停止輸出）、過(guò)壓保護(hù)（超過(guò)設(shè)備設(shè)置輸出電壓50V后設(shè)備停止輸出）、短路保護(hù)（未放置樣品設(shè)備發(fā)生短路設(shè)備停止輸出）
16. 電流靈敏度：10nA
17. 擊穿斷電響應(yīng)：1ms
18. 電壓顯示精度：0.05KV
19. 電流顯示精度：10nA
20. 50點(diǎn)電極法測(cè)試工裝：上電極直徑25mm，倒角2.5mm，高度120mm，黃銅材料。下電極退火鋁箔下平鋪3mm厚度，邵氏硬度60-70的橡皮/硅膠。要求電極表面光滑，無(wú)劃痕。
21. 工裝尺寸：500mm*350mm*80mm
22. 設(shè)備尺寸：120 mm *280 mm *100mm
應(yīng)用領(lǐng)域
在高溫測(cè)試過(guò)程中能夠除去熱釋電的影響，廣泛用于壓電材料(壓電陶瓷、高分子)、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評(píng)價(jià)與測(cè)試。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
01. 采用進(jìn)口B&K進(jìn)口激振器，更準(zhǔn)確的振動(dòng)頻率；
02. 采用ADA4870 驅(qū)動(dòng)技術(shù)與B&K激振器匹配，閉環(huán)實(shí)現(xiàn)更穩(wěn)定的加載力；
03. 采用主流FPGA設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)30Hz-140Hz寬范圍測(cè)量；
04. 采用高阻放電荷放大器，減小測(cè)量過(guò)程中的損耗，準(zhǔn)確測(cè)量；
05. 采用直流線(xiàn)性加熱，減少渦流加熱噪聲；
06. 采用真空電極避免絕緣支架帶來(lái)的熱釋電電荷，引入測(cè)量系統(tǒng)。
產(chǎn)品參數(shù)
電性能參數(shù)
01. 范圍：100到10,000 pC/N,
精度Accuracy±2%±1 pC/N；負(fù)載：1.0uF
02. 高范圍：10到1000 pC/N，
精度：±2%±1 pC/N，負(fù)載：1.0uF；
03. 低范圍：1到100 pC/N,
精度：±2%±0.1 pC/N，負(fù)載: 1.0uF；
04. 范圍：d33 0到10 pC/N，
精度:±2%±0.01 pC/N，負(fù)載: 0.1uF；
儀器參數(shù)
01. 測(cè)試頻率：調(diào)節(jié)范圍30Hz到140Hz，精度：±0.1Hz
02. 測(cè)試載荷：靜態(tài)力10N，振蕩測(cè)試載荷：0.05N到0.5N可調(diào)
03. 電容測(cè)量范圍：10 pF到0.1 μF，精度：±2%±1 pF
04. 溫度范圍：RT-650℃
05. 加熱方式：PID控制（含LVDC降噪電源）
06. 溫度穩(wěn)定度：±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）
07. 軟件功能：可設(shè)溫控速率，可設(shè)溫控程序，可記錄溫控曲線(xiàn)
08. 試驗(yàn)電壓：DC 50V- 6K9. 試驗(yàn)電壓精度：≤2%
10. 快速放電功能：測(cè)試結(jié)束后自動(dòng)放電（DCW）
11. 電壓上升時(shí)間：0.1s — 999.9s
12. 測(cè)試時(shí)間設(shè)定(DC) ：0.2s — 999.9s
13. 測(cè)試電流：DC 0-5mA
14. 電流精度：≤2%
15. 保護(hù)：過(guò)流保護(hù)（超過(guò)設(shè)置電流值10nA設(shè)備停止輸出）、過(guò)壓保護(hù)（超過(guò)設(shè)備設(shè)置輸出電壓50V后設(shè)備停止輸出）、短路保護(hù)（未放置樣品設(shè)備發(fā)生短路設(shè)備停止輸出）
16. 電流靈敏度：10nA
17. 擊穿斷電響應(yīng)：1ms
18. 電壓顯示精度：0.05KV
19. 電流顯示精度：10nA
20. 50點(diǎn)電極法測(cè)試工裝：上電極直徑25mm，倒角2.5mm，高度120mm，黃銅材料。下電極退火鋁箔下平鋪3mm厚度，邵氏硬度60-70的橡皮/硅膠。要求電極表面光滑，無(wú)劃痕。
21. 工裝尺寸：500mm*350mm*80mm
22. 設(shè)備尺寸：120 mm *280 mm *100mm
應(yīng)用領(lǐng)域
在高溫測(cè)試過(guò)程中能夠除去熱釋電的影響，廣泛用于壓電材料(壓電陶瓷、高分子)、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評(píng)價(jià)與測(cè)試。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
01. 采用進(jìn)口B&K進(jìn)口激振器，更準(zhǔn)確的振動(dòng)頻率；
02. 采用ADA4870 驅(qū)動(dòng)技術(shù)與B&K激振器匹配，閉環(huán)實(shí)現(xiàn)更穩(wěn)定的加載力；
03. 采用主流FPGA設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)30Hz-140Hz寬范圍測(cè)量；
04. 采用高阻放電荷放大器，減小測(cè)量過(guò)程中的損耗，準(zhǔn)確測(cè)量；
05. 采用直流線(xiàn)性加熱，減少渦流加熱噪聲；
06. 采用真空電極避免絕緣支架帶來(lái)的熱釋電電荷，引入測(cè)量系統(tǒng)。
產(chǎn)品參數(shù)
電性能參數(shù)
01. 范圍：100到10,000 pC/N,
精度Accuracy±2%±1 pC/N；負(fù)載：1.0uF
02. 高范圍：10到1000 pC/N，
精度：±2%±1 pC/N，負(fù)載：1.0uF；
03. 低范圍：1到100 pC/N,
精度：±2%±0.1 pC/N，負(fù)載: 1.0uF；
04. 范圍：d33 0到10 pC/N，
精度:±2%±0.01 pC/N，負(fù)載: 0.1uF；
儀器參數(shù)
01. 測(cè)試頻率：調(diào)節(jié)范圍30Hz到140Hz，精度：±0.1Hz
02. 測(cè)試載荷：靜態(tài)力10N，振蕩測(cè)試載荷：0.05N到0.5N可調(diào)
03. 電容測(cè)量范圍：10 pF到0.1 μF，精度：±2%±1 pF
04. 溫度范圍：RT-650℃
05. 加熱方式：PID控制（含LVDC降噪電源）
06. 溫度穩(wěn)定度：±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）
07. 軟件功能：可設(shè)溫控速率，可設(shè)溫控程序，可記錄溫控曲線(xiàn)
08. 試驗(yàn)電壓：DC 50V- 6K9. 試驗(yàn)電壓精度：≤2%
10. 快速放電功能：測(cè)試結(jié)束后自動(dòng)放電（DCW）
11. 電壓上升時(shí)間：0.1s — 999.9s
12. 測(cè)試時(shí)間設(shè)定(DC) ：0.2s — 999.9s
13. 測(cè)試電流：DC 0-5mA
14. 電流精度：≤2%
15. 保護(hù)：過(guò)流保護(hù)（超過(guò)設(shè)置電流值10nA設(shè)備停止輸出）、過(guò)壓保護(hù)（超過(guò)設(shè)備設(shè)置輸出電壓50V后設(shè)備停止輸出）、短路保護(hù)（未放置樣品設(shè)備發(fā)生短路設(shè)備停止輸出）
16. 電流靈敏度：10nA
17. 擊穿斷電響應(yīng)：1ms
18. 電壓顯示精度：0.05KV
19. 電流顯示精度：10nA
20. 50點(diǎn)電極法測(cè)試工裝：上電極直徑25mm，倒角2.5mm，高度120mm，黃銅材料。下電極退火鋁箔下平鋪3mm厚度，邵氏硬度60-70的橡皮/硅膠。要求電極表面光滑，無(wú)劃痕。
21. 工裝尺寸：500mm*350mm*80mm
22. 設(shè)備尺寸：120 mm *280 mm *100mm
應(yīng)用領(lǐng)域
在高溫測(cè)試過(guò)程中能夠除去熱釋電的影響，廣泛用于壓電材料(壓電陶瓷、高分子)、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評(píng)價(jià)與測(cè)試。
